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| 电子能谱线形分析研究碳物种的化学状态 | |
| 作者姓名： | 朱永法 郑斌 姚文清 叶小燕 曹立礼 |
| 作者单位： | 清华大学化学系,北京,100084;清华大学化学系,北京,100084;清华大学化学系,北京,100084;清华大学化学系,北京,100084;清华大学化学系,北京,100084 |
| 基金项目： | 国家教委留学回国人员启动基金,清华大学基础研究基金资助项目 |
| 摘 要： | 利用ＸＰＳ的ＣＩｓ携上峰,Ｘ射线激发供歇线形,ＸＰＳ价带谱以及俄歇电子能谱的ＣＫＬＬ线形研究了几处碳材料的化学状态和电子结构。研究结果表明：ＸＰＳ的携上效应可以鉴别不同结构的碳材料。ＸＡＥＳＲ 化学位移和线形也可以有效地研究中不同的碳材料的成像方式。ＸＰＳ的价带谱电子结构的一种有效方法,对碳材料的研究也很有效。ＡＥＳ的ＣＫＬＬ俄歇线形非常适合金属碳化物的鉴别。 |
| 关 键 词： | X射线光电子能谱 俄歇电子能谱 线形分析 碳 |
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