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小角散射实验应用成像板探测器测量绝对强度的方法
引用本文:刘开源. 小角散射实验应用成像板探测器测量绝对强度的方法[J]. 物理实验, 2005, 25(4): 37-39
作者姓名:刘开源
作者单位:鞍山师范学院,物理系,辽宁,鞍山,114005
摘    要:利用衰减法,设计了以第一电离室的计数归一化入射光束强度,用成像板计数单位记录入射光束强度的方案,并用Si片衰减进行了实验,结果表明本文提出的方案能够获得合理的绝对强度.

关 键 词:小角散射  绝对强度  衰减法  成像板
文章编号:1005-4642(2005)04-0037-03
修稿时间:2004-08-13

Measurement of absolute intensity with image plate detector in small-angle scattering experiments
LIU Kai-yuan. Measurement of absolute intensity with image plate detector in small-angle scattering experiments[J]. Physics Experimentation, 2005, 25(4): 37-39
Authors:LIU Kai-yuan
Abstract:The intensity is calibrated with image plate count unit, and is normalized by the count of an ion chamber positioned in front of the Absorption foils. Silicon foils are used to carry out the experiment, and the results demonstrate that the experimental scheme can obtain reasonable Absolute intensity.
Keywords:small-angle scattering  Absolute intensity  attenuation method  image plate
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