The optoacoustic layering effect and thickness measurements |
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Authors: | D. Betteridge and P. J. Meyler |
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Affiliation: | (1) Department of Chemistry, University College of Swansea, Singleton Park, SA2 8PP Swansea, W. Glam, S. Wales, UK |
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Abstract: | ![]() Summary The value of optoacoustic spectroscopy as a technique for the quantitative non-destructive determination of thickness of surface layers is examined by reference to two systems. In one, carbon deposits on a nickel-alumina catalyst with graphite filler, it is shown that the deposit can be detected, and its thickness estimated by application of a simple equation. The relationship does not hold for different thicknesses of the transparent polymer melinex above 40 m. It is argued that because the optoacoustic signal has complex origins, reliable quantitative relationships are difficult to establish. However, it is confirmed that qualitative analysis of subcutaneous layers by OAS, is relatively straightforward.
Der optoakustische Schichteffekt und Messungen von Schichtdicken Zusammenfassung Der Nutzen der optoakustischen Spektroskopie für die quantitative zerstörungsfreie Bestimmung von Oberflächenschichtdicken wird an Hand von zwei verschiedenen Systemen untersucht. Im Falle von Kohlenstoffablagerungen auf einem Ni-Al2O3-Katalysator mit Graphitmatrix konnte die Dikke der Ablagerung mit Hilfe einer einfachen Gleichung bestimmt werden. Jedoch konnte diese Beziehung bei dem transparenten Polymer Melinex für Schichtdicken über 40 m nicht angewendet werden. Wegen der komplexen Ursachen des optoakustischen Signals ist es schwierig, zuverlässige quantitative Beziehungen aufzustellen. Für qualitative Schichtuntersuchungen kann die Methode aber nützlich sein. |
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Keywords: | Oberflä chenanalyse Optoakustische Spektroskopie Katalysatoren |
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