| 双介质谐振器法测量超导薄膜的表面电阻 |
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| 引用本文： | 刘润宝,魏斌,彭慧丽,李宏成,曹必松. 双介质谐振器法测量超导薄膜的表面电阻[J]. 低温物理学报, 2007, 29(1): 77-80 |
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| 作者姓名： | 刘润宝 魏斌 彭慧丽 李宏成 曹必松 |
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| 作者单位： | 清华大学物理系,北京,100084;清华大学物理系,北京,100084;清华大学物理系,北京,100084;清华大学物理系,北京,100084;清华大学物理系,北京,100084 |
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| 基金项目： | 感谢中国科学院物理研究所郑东宁教授提供测试用的YBC0薄膜样品.并感谢本组郜龙马等对本工作测试实验的支持. |
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| 摘 要： | 介绍了清华大学物理系研制的一个测量高温超导薄膜微波表面电阻的系统,展示了测量的原理和过程.本系统是按照目前国际上高温超导薄膜的微波表面电阻的测量标准方案(ICE/TC90)选定的 TE011- TE013双介质谐振器法来对超导薄膜进行测量.介质谐振器谐振的中心频率约为11.96 GHz,具有很高的准确性和灵敏度.在液氮(77 K)温度下,用物理所提供的两片YBCO薄膜测量,TE011和TE013模式的无载Q值分别达到5.57×10 5和1.51×10 6, 就我们所知,这是国内所报道的最高Q值.其Rs(77 K,10 GHz)平均值为263微欧.因此,本系统可以较为准确地测量表面电阻很小(300微欧以下)的高温超导薄膜.
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| 关 键 词： | 介质谐振器 高温超导薄膜 表面电阻 品质因素 双介质谐振器法 |
| 修稿时间： | 2006-06-01 |
MEASUREMENT OF THE SURFACE RESISTANCE OF HTS FILMS BY TWO DIELECTRIC RESONATORS METHOD |
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| Liu Run-bao,Wei Bin,Peng Hui-li,Li Hong-cheng,Cao Bi-song. MEASUREMENT OF THE SURFACE RESISTANCE OF HTS FILMS BY TWO DIELECTRIC RESONATORS METHOD[J]. Chinese Journal of Low Temperature Physics, 2007, 29(1): 77-80 |
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| Authors: | Liu Run-bao Wei Bin Peng Hui-li Li Hong-cheng Cao Bi-song |
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| Affiliation: | Department of Physics, Tsinghua University Beijing, 100084 |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | dielectric resonator HTS film surface resistance Q value two dielectric resonators method |
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