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| K吸收边处的能量转换 | |
| 作者姓名： | A.F.Sklensky |
| 作者单位： | 美国Lockheed Palo |
| 摘 要： | 对响应于10—100keV的X射线激发的X射线增强屏作了测试。目的是为了测定在常规的医用条件下,X射线谱中的每个部分对屏的整个响应的贡献。屏的K吸收边以下的响应特别令人注意(相对于K吸收边之上 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
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