The non-easily ionized elements as spectrochemical buffers

Summary A method is developed for determining trace elements (In, Ga, B, V, Mo, Mn, Pt, P, Be) in graphite with the aid of a low current d.c. arc. The method makes use of the enhancement of the radiation intensities of trace elements by non-easily ionized elements (NEIE). As a NEIE, this method uses Cd which is added up to a concentration of 150 mg/g sample. The absolute detection limits for all of the above mentioned elements are at the ng-level.

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Elemente mit hohen Ionisationspotentialen als spektrometrische Puffersubstanzen

Zusammenfassung Für die Bestimmung von Spurenelementen (z.B. In, Ga, B, V, Mo, Mn, Pt, P, Be) wurde ein emissionsspektrometrisches Verfahren entwickelt, bei dem die Anregung der Probe mit Graphitelektroden in Gegenwart von Cadmium als schwer ionisierbarer spektrochemischer Puffer erfolgt. Die 15% ige Beimischung von Cd zur Probe verstärkt die Strahlungsintensität der Spurenelemente, sodaß Nachweisgrenzen im ng-Bereich für alle untersuchten Spurenelemente erreicht werden.