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| 环形高温超导薄膜微波谐振器及其品质因数Q的测定 | |
| 引用本文： | 李静维,卢荣润.环形高温超导薄膜微波谐振器及其品质因数Q的测定[J].低温物理学报,1994,16(2):129-136. |
| 作者姓名： | 李静维 卢荣润 |
| 作者单位： | 中国科学院物理研究所国家超导实验室，中国科学院物理研究所，航空航天部第二研究院２０３所 |
| 基金项目： | 国家自然科学基金,北京中关村联合测试中心资助 |
| 摘 要： | 利用直流磁控溅射方法制备在ＺｒＯ２基片上的ＧｄＢａ２Ｃｕ３Ｏ７－δ高温超导薄膜，我们制成了环形薄膜微波谐振器，并对它的品质因数Ｑ值进行了测量，测量温区从８０Ｋ直到１５０Ｋ。当输入到谐振器的功率等于１ｍＷ，并且当它处在８１．２Ｋ时，谐振器在４．２１２ＧＨｚ（最小插损点处的频率）起振；这时的有载品质因数Ｑ值等于１７６，谐振点处的最小插损为－９．５８ｄＢ；在谐振峰两侧比最小插损低３ｄＢ两点之间的频率差为 |
| 关 键 词： | 超导膜 微波谐振器 品质因数 |
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