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| 3种常用超细颗粒粒径测试方法的比对研究 | |
| 引用本文： | 王瑞斌,何琳,李刚,钮晓鸣,何丹农,路庆华. 3种常用超细颗粒粒径测试方法的比对研究[J]. 分析测试学报, 2005, 24(6): 119-121 |
| 作者姓名： | 王瑞斌 何琳 李刚 钮晓鸣 何丹农 路庆华 |
| 作者单位： | 1. 上海交通大学,分析测试中心,上海,200030 2. 上海纳米科技与产业发展促进中心,上海,200030 |
| 基金项目： | 国家科技攻关项目;上海市纳米科技专项基金 |
| 摘 要： | 采用聚苯乙烯球形颗粒,对3种常用颗粒粒径测试仪器扫描电子显微镜（SEM）、原子力显微镜（AFM）、光子相关光谱仪（PCS）的测试结果进行比对,结果表明,对于球形颗粒,3种测试方法所得到的颗粒粒径具有一致性. |
| 关 键 词： | 超细颗粒 粒径 光子相关光谱 原子力显微镜 扫描电镜 聚苯乙烯 |
| 文章编号： | 1004-4957（2005）06-0119-03 |
| 收稿时间： | 2004-10-23 |
| 修稿时间： | 2005-06-20 |
Comparison of Three Conventional Measurements of Ultrafine- particle Diameter |
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| WANG Rui-bin,HE Lin,LI Gang,NIU Xiao-ming,HE Dan-nong,LU Qing-hua. Comparison of Three Conventional Measurements of Ultrafine- particle Diameter[J]. Journal of Instrumental Analysis, 2005, 24(6): 119-121 | |
| Authors: | WANG Rui-bin HE Lin LI Gang NIU Xiao-ming HE Dan-nong LU Qing-hua |
| Affiliation: | 1. Instrumental Analysis Center, Shanghai Jiaotong University, Shanghai 200030, China; 2. Shanghai Nanotechnology Promotion Center, Shanghai 200030, China |
| Abstract: | |
| Keywords: | Ultrafine-particle Particle diameter PCS AFM SEM PS |
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