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| 稀土富勒烯电子结构的XPS研究 | |
| 引用本文： | 孙大勇 李兴林. 稀土富勒烯电子结构的XPS研究[J]. 分析测试学报, 1998, 17(4): 5-7 |
| 作者姓名： | 孙大勇 李兴林 |
| 作者单位： | 中国科学院长春应用化学研究所应用谱学开放实验室 |
| 摘 要： | 采用Ｘ射线光电子能谱（ＸＰＳ）对富含稀土富勒烯Ｐｒ、Ｇｄ、Ｔｂ、Ｄｙ、Ｅｒ＠Ｃ２ｎ的吡啶提取液的固态沉积膜进行了研究，检测到明确的稀土元素的ＸＰＳ谱峰，表明富勒烯笼内嵌入的稀土元素具有特征的ＸＰＳ谱峰。通过对谱峰的分析，发现稀土富勒烯具有较为稳定的结构。嵌入的Ｐｒ、Ｇｄ、Ｔｂ、Ｄｙ、Ｅｒ等稀土元素与富勒烯球笼间存在电子的迁移。 |
| 关 键 词： | 稀土富勒烯，X射线光电子能谱，电子结构 |
XPS Study on the Electronic Structures of Endohedral Rare-earth Fullerenes |
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| Abstract: | |
| Keywords: | Endohedral rare-earth fullerenes XPS Electronic structure |
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