首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

镀金层识别及其厚度测定的X—荧光强度比值法
引用本文:郑荣华,黄近丹.镀金层识别及其厚度测定的X—荧光强度比值法[J].分析测试学报,1998,17(5):16-19.
作者姓名:郑荣华  黄近丹
作者单位:福建省测试技术研究所
摘    要:利用Au原子在X射线激发下所发射的Lβ线和M线的强度比值识别样品是镀金还是K金,同时利用这个比值测定镀金层的厚度,镀金层厚度的测定范围为0~4μm,测定值与标定值的相对误差小于15%。

关 键 词:强度比值法,镀金层,识别,厚度

Intensity Ratio Method for the Recognition of Gold-plated Jewelry and for Gold Thickness Determination
Zheng Ronghua,Huang Jindan,Zhang Wenfang,Li Yenong.Intensity Ratio Method for the Recognition of Gold-plated Jewelry and for Gold Thickness Determination[J].Journal of Instrumental Analysis,1998,17(5):16-19.
Authors:Zheng Ronghua  Huang Jindan  Zhang Wenfang  Li Yenong
Abstract:
Keywords:Intensity ration method  Gold plating  Recognition  Thickness
本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号