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| 微弱信号讲座第六讲 弱光的测量 | |
| 引用本文： | 陈一询. 微弱信号讲座第六讲 弱光的测量[J]. 物理, 1990, 19(5). |
| 作者姓名： | 陈一询 |
| 作者单位： | 1.中国科学院物理研究所 |
| 摘 要： | 光测量广泛用于各个领域,例如光谱学、天文学、激光光谱分析以及光纤特性测量等．由于噪声的影响,弱光测量不同于强光的测量,因此必需采用特殊的方法来降低噪声,改善信噪比,以提高测量精度．本文将通过对噪声的分析及改善信噪比方法的介绍来讨论弱光测量中的问题．一、光检测系统光检测系统通常包括四个部分（如图１所示）,即检测对象和应用目的;检测器,例如测辐射热计、光电倍增管、视象管、固态摄象管、光二极管阵列?... |
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