| 不同非均匀性校正温度的红外测温技术 |
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| 引用本文： | 张晓龙,刘英,王健,周昊,孙强.不同非均匀性校正温度的红外测温技术[J].中国光学,2014(1). |
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| 作者姓名： | 张晓龙 刘英 王健 周昊 孙强 |
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| 作者单位： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所;中国科学院大学; |
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| 基金项目： | 吉林省与中国科学院合作长吉图开发开放先导区科技创新合作专项资金资助项目(No.2011CJT0004);吉林省科技发展计划资助项目(No.20106015,No.20125092) |
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| 摘 要： | 为使制冷型中波红外热像仪在不同环境温度下经过非均匀性校正后保持较高的测温精度,研究了考虑非均匀性校正温度效应的中波红外热像仪标定模型。利用不同温度的面源黑体对热像仪进行非均匀性校正,然后对黑体目标进行测温实验,获得了不同校正温度下热像灰度与黑体辐射亮度之间的变化关系,建立了目标的测温数学计算模型,最后对测温结果进行误差分析。结果表明:在不同校正温度下,热像灰度相对非均匀校正辐亮度的漂移可做线性化处理,且与目标温度变化无关。在非均匀性较低的测温范围内热像仪的测温误差小于±0.22℃,极大减小了制冷型中波红外热像仪在不同校正温度下非均匀性校正后的测温误差。
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| 关 键 词： | 非均匀性校正 制冷 中波红外热像仪 红外测温 |
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