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超导薄膜磁场穿透深度的精确测量
引用本文:王瑞峰,赵士平,陈赓华,杜寰,徐凤枝,杨乾声. 超导薄膜磁场穿透深度的精确测量[J]. 低温物理学报, 1999, 21(4): 309-312
作者姓名:王瑞峰  赵士平  陈赓华  杜寰  徐凤枝  杨乾声
作者单位:中科院物理所,凝聚态物理中心,北京,100080
摘    要:磁场穿透深度λ是超导体的一个基本参数,目前,一般测试穿透深度的实验只能给出其变化量Δλ=λ(T)-λ(0),而不能得到λ的绝对值.并且由于测量精度的限制,用给定的理论模型拟合实验结果而得到的λ也有很大的不确定性.本文对此进行了详细的分析,并用双线圈互感法研究了超导薄膜穿透深度的精确测量,并给出了磁控溅射Nb膜的测量结果.我们的研究表明,这一方法能较为准确地给出λ的绝对值,从而避免了以往的测量及拟合所导致的不确定性.基于BCS理论并考虑样品有限的电子平均自由程后,理论计算结果与我们的测量结果吻合较好

关 键 词:超导体 薄膜 磁场穿透深度 测量法

ACCURATE MEASUREMENT OF MAGNETIC PENETRATION DEPTH IN SUPERCONDUCTING FILMS
R.F.Wang,S.P.Zhao,G.H.Chen,H.Du,F.Z.Xu,Q.S.Yang. ACCURATE MEASUREMENT OF MAGNETIC PENETRATION DEPTH IN SUPERCONDUCTING FILMS[J]. Chinese Journal of Low Temperature Physics, 1999, 21(4): 309-312
Authors:R.F.Wang  S.P.Zhao  G.H.Chen  H.Du  F.Z.Xu  Q.S.Yang
Abstract:
Keywords:
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