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N极性GaN薄膜的MOCVD外延生长
作者姓名:李亮  罗伟科  李忠辉  董逊  彭大青  张东国
作者单位:1.南京电子器件研究所 微波毫米波单片集成和模块电路重点实验室,江苏 南京,210016
基金项目:江苏省科技支撑计划(BE2010006)资助项目
摘    要:采用MOCVD技术在c面蓝宝石衬底上外延制备了N极性GaN薄膜。通过KOH腐蚀的方法判定了GaN外延薄膜的极性。通过X射线双晶衍射(XRD)摇摆曲线和光致荧光(PL)谱测试研究了成核层生长时间对N极性GaN薄膜晶体质量和发光性能的影响。研究结果表明,成核层生长时间为300s时,N极性GaN薄膜样品的位错密度最低,发光性能最好。采用拉曼(Raman)光谱对样品的应变状态进行了分析。

关 键 词:氮化镓  氮极性  成核层  金属有机物化学气相沉积
收稿时间:2013-07-04
修稿时间:2013-08-07
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