| 二氧化硅-十八烷基三氯硅烷界面的和频光谱相位测量及其测量精度分析 |
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| 作者姓名： | 刘晓杰 徐帅 李玉琼 靳刚 冯冉冉 |
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| 作者单位： | 中国科学院力学研究所国家微重力实验室,北京 100190;中国科学院大学工程科学学院,北京 100049;中国科学院力学研究所国家微重力实验室,北京 100190;中国科学院大学工程科学学院,北京 100049;北京大学化学与分子工程学院整合谱学中心,北京 100871 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金面上项目(2177327);国家自然科学基金青年科学基金项目(21303005);中国科学院科研仪器设备研制项目(Y830031021)资助。 |
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| 摘 要： | 相位测量和频振动光谱(SFG)可以获得物质表面分子取向等信息,但在实验重复性、实验设计和界面分析等方面仍有一些关键问题没有解决.相位误差会引起光谱变化并误导界面结构分析,因此分析并准确控制误差是相位测量S FG的关键技术.使用z-切石英作为相位标准,测量了修饰在熔融石英基底上的十八烷基三氯硅烷(OTS)在C—H振动波段...
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| 关 键 词： | 二阶非线性光学技术 和频振动光谱 界面分子检测 相位测量 |
| 收稿时间： | 2020-02-10 |
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