| 电感耦合等离子体质谱法测定高纯镉中的杂质元素 |
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| 引用本文： | 曹淑琴,陈杭亭,曾宪津. 电感耦合等离子体质谱法测定高纯镉中的杂质元素[J]. 光谱学与光谱分析, 1999, 0(6) |
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| 作者姓名： | 曹淑琴 陈杭亭 曾宪津 |
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| 作者单位： | 中国科学院长春应用化学研究所，国家电化学和光谱分析研究中心!130022长春，中国科学院长春应用化学研究所，国家电化学和光谱分析研究中心!130022长春，中国科学院长春应用化学研究所，国家电化学和光谱分析研究中心!130022长春 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金，国家教育部留学归国人员基金 |
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| 摘 要： | 采用电感耦合等离子体质谱法测定高纯镉中的杂质元素。讨论了镉基体的谱线干扰，比较了镉基体产生的多原子离子的干扰程度，该干扰按ＣｄＨ、ＣｄＯ、ＣｄＯ２ 、ＣｄＡｒ、ＣｄＯＨ和ＣｄＯＨ２ 顺序递减。研究了不同浓度镉基体对分析物信号的抑制或增强效应，镉的浓度大于０．２５ｇ·Ｌ－ １ 时，对质量数小于１００的分析物的信号强度产生抑制，而对质量数大于１５０ 的分析物的信号强度产生增强，采用８９Ｙ和２０９ Ｂｉ作内标分别克服基体的抑制和增强效应。测定了高纯镉的Ａｓ、Ｂｅ、Ｃｏ、Ｃｕ、Ｇａ、Ｇｅ、Ｍｎ、Ｍｏ、Ｐｂ、Ｎｉ、Ｓｒ、Ａｕ、Ｔｌ、Ｔｈ、Ｖ 和Ｕ 等１６ 个杂质元素，方法的检测限０．００５～０．０５２ μｇ·Ｌ－ １ ，标准加入回收率８２％ ～１０８％ 。
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| 关 键 词： | 电感耦合等离子体质谱法 高纯镉 杂质元素 |
Determination of the Impurities Elements in High purity Cadmium by Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Inductively coupled plasma mass spectrometry High purity cadmium Impurities |
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