分离富集技术在现代发射光谱分析中的应用与进展

近年来,在运用原子发射光谱法(AES)进行地质、生物、环保、农业和工业等样品的分析时,经常要求测定μg·ml~(-1),ng·ml~(-1)甚至pg·ml~(-1)级的痕量元素,而且分析对象也日益复杂多样,常用的ICP-AES虽然有很高的灵敏度,但要直接测定痕量元素,也是很困难的。因此,必须采用分离富集技术与之相配合。在发射光谱分析中,分离富集技术的采用,可使分析检出限、精密度和准确度获得有效改善,并使方法的应用范围得到扩大。广义地讲,现代发射光谱分析应该是一系列分析操作(包括物理的、化学的处理过程,仪器的和非仪器的分析过程)的总称,远非单纯的仪器测定。