用于脉冲γ强度测量的Ф60,1000μmPIN探测器 |
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作者姓名: | 欧阳晓平 李真富 霍裕昆 宋献才 |
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作者单位: | 清华大学工程物理系,西北核技术研究所,复旦大学现代物理研究所,中国工程物理研究院电子学研究所 北京100084西北核技术研究所,西安710024,西安710024,上海200433,绵阳621900 |
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摘 要: | 采用电阻率为10000—20000Ω.cm的高阻单晶硅材料,研制成功灵敏区尺寸为60mm,耗尽层厚度~1000μm的大面积厚PIN半导体探测器.设计了该类探测器厚度测量专用的反冲质子测量系统,对探测器的时间响应、γ灵敏度、漏电流、γ/n分辨等物理参数进行了测量和分析,结果表明,这类探测器可满足低强度裂变n/γ混合场中脉冲γ强度测量的需要.
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关 键 词: | 大面积 电流型 半导体探测器 |
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