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306型ICP发射光谱分析系统
引用本文:刘翠茹.306型ICP发射光谱分析系统[J].分析测试学报,1985(3).
作者姓名:刘翠茹
摘    要:据1984年第1期《日立评论》介绍,已研制成功306型ICP发射光谱分析系统。该装置内安有2台分光器,采用微电脑控制扫描方式,一分钟可测定50条谱线的强度。若用2条谱

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