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电镀污泥成分X荧光检测水分影响机制及校正方法研究
引用本文:滕婧,石垚,李会泉,刘作华,李志宏,何明星,张晨牧.电镀污泥成分X荧光检测水分影响机制及校正方法研究[J].光谱学与光谱分析,2024(2):419-425.
作者姓名:滕婧  石垚  李会泉  刘作华  李志宏  何明星  张晨牧
作者单位:1. 重庆大学化学化工学院;2. 中国科学院过程工程研究所,中国科学院绿色过程与工程重点实验室,中国科学院绿色过程制造创新研究院,战略金属资源绿色循环利用国家工程研究中心;3. 中国科学院大学化学工程学院;4. 河北工程大学信息与电气工程学院
基金项目:国家重点研发计划项目(2018YFC1903300)资助;
摘    要:电镀污泥是金属加工、电子元器件制造等行业在废水处理过程中所产生含重金属危险废物。我国每年产生大量电镀污泥约1 000万吨,因含有Zn、 Cu、 Fe、 Ni、 Cr等多种有价金属元素其资源化利用潜力巨大,同时大量污泥处置不当也会危害人体健康和污染环境。传统化学分析测试过程复杂周期长,不利于电镀污泥实时污染防控。能量色散X射线荧光(EDXRF)光谱法分析快速简便、费用低廉、可实现原位检测,然而电镀污泥样品含水率高、成分含量不稳定,影响测试结果的及时性和准确度,导致关键元素的资源转化效率难以保证、环境污染管控难度高。因此需要分析X荧光检测水分影响机制并探究水分校正方法,以提高EDXRF测试结果准确度。以不同含水率电镀污泥为对象,研究了水分对电镀污泥EDXRF测试过程中光谱本底、散射峰、目标元素特征峰的影响机制,通过目标元素特征峰与瑞利散射峰强度的比值、样品含水率ω0 wt%和目标元素含量Ci%建立水分校正模型,探究了Ca、 Cr、 Fe、 Ni、 Cu、 Zn目标元素的水分校正方程中的实验修正因子。结果表明,水分抬高了光谱本底改变谱峰轮廓,对低能...

关 键 词:X射线荧光光谱  电镀污泥  水分影响  基体效应  散射校正
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