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波差与表面斜率误差评价方法的讨论
引用本文:余景池,郭培基,孙侠菲,丁泽钊.波差与表面斜率误差评价方法的讨论[J].光学技术,2001,27(6):543-544.
作者姓名:余景池  郭培基  孙侠菲  丁泽钊
作者单位:苏州大学现代光学技术省重点实验室 江苏苏州215006 (余景池,郭培基,孙侠菲),苏州大学现代光学技术省重点实验室 江苏苏州215006(丁泽钊)
摘    要:对用波差与表面斜率误差评价光学元件面形误差的方法进行了比较和讨论。以具有不同面形精度的光学元件 ,在不同的数据处理方法下得到的结果为例 ,说明此两种面形评价方法在数据处理方法不同时在数值上的联系。

关 键 词:波差  斜率误差  面形评价
文章编号:1002-1582(2001)06-0543-02
修稿时间:2001年5月21日

Discussion of wavefront error and slope error of the surface on the assessment method
YU Jing-chi,GUO Pei-ji,SHUN Xia-fei,DING Zhe-zao.Discussion of wavefront error and slope error of the surface on the assessment method[J].Optical Technique,2001,27(6):543-544.
Authors:YU Jing-chi  GUO Pei-ji  SHUN Xia-fei  DING Zhe-zao
Abstract:Wavefront error and slope error of the surface as two different assessment methods of an optical component figure error are compared and discussed in this paper. Some optical surfaces with different figure error are used as examples to find out the relationship between the assessment methods mentioned above when the condition of the date treatment is changed.
Keywords:wavefront error  slope error  assessment method  
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