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气流混合对生长GaN:Si膜性能影响的研究
引用本文:莫春兰,李鹏,等.气流混合对生长GaN:Si膜性能影响的研究[J].光学学报,2002,22(2):81-185.
作者姓名:莫春兰  李鹏
摘    要:用金必有机化学气相沉积技术在三种不同型号的反应管中生长了GaN:Si膜。通过对样品的光电及结晶性能的分析,研究了气流混合时间不同对GaN:Si膜性质的影响。结果表明:合理的Ⅲ、Ⅴ族气流混合对提高GaN:Si膜的光电及结晶性能很重要。Ⅲ、Ⅴ族气流混合太早,气流混合时间长,GaN:Si膜的黄带与发射强度之比较大,X射线双晶衍射半高宽;Ⅲ、Ⅴ族气流混合太晚,尽管可减少预反应,但气流混合不均匀,致使GaN:Si膜的发光性能及结晶性能变差。使用Ⅲ、Ⅴ族气流混合适中的反应管B生长、获得了光电及结晶性能良好的CaN:Si单晶膜。

关 键 词:GaN:Si  金属有机气相沉积技术  气流混合  氮化镓    薄膜  外延生长  光电性能  结晶性能
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