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等离子体诊断用18.2 nm Schwarzschild显微镜
引用本文:王新, 穆宝忠, 黄怡, 等. 等离子体诊断用18.2 nm Schwarzschild显微镜[J]. 强激光与粒子束, 2011, 23(03).
作者姓名:王新  穆宝忠  黄怡  翟梓融  伊圣振  蒋励  朱京涛  王占山  刘红杰  曹磊峰  谷渝秋
作者单位:1.同济大学 物理系, 精密光学工程技术研究所, 上海 200092;;;2.上海市特殊人工微结构材料与技术重点实验室, 上海 200092;;;3.中国工程物理研究院 激光聚变研究中心, 四川 绵阳 621 900
摘    要:研制了用于超快激光等离子体诊断的Schwarzschild型正入射显微镜,该显微镜工作波长为18.2 nm,数值孔径为0.1,放大倍数为10。根据诊断要求设计了Schwarzschild物镜的光学结构,计算了物镜的光学传递函数,结果显示,设计的物镜在±1 mm视场范围内像方空间分辨力可达125 lp/mm。根据系统工作波长和光线在镜面的入射角度设计了Mo/Si周期多层膜反射镜,制作了Schwarzschild显微镜光学元件,镀制的膜系周期厚度为9.509 nm,周期数为30,对18.2 nm波长的反射率约31.1%。利用激光等离子体光源对24 lp/mm网格进行了成像实验,实验结果表明:系统在中心视场的分辨力为3 μm,600 μm内视场的分辨力为5 μm。

关 键 词:Schwarzschild显微镜   激光等离子体   Mo/Si多层膜   空间分辨力
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