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微扫描技术对光电图像混淆噪声的影响
引用本文:孟海鸿,张新,张建萍.微扫描技术对光电图像混淆噪声的影响[J].光学技术,2006,32(Z1).
作者姓名:孟海鸿  张新  张建萍
摘    要:在分析采样理论和微扫描理论的基础上,引入了一个评价光电成像系统混淆噪声的品质因数,定量地分析了不同模式的微扫描对系统混淆噪声的改善程度。

关 键 词:光电成像系统  微扫描  混淆噪声  能量谱密度  信噪比

Improvement of noise in opto-electronic image system utilizing microscanning techniques
MENG Hai-hong,ZHANG Xin,ZHANG Jian-ping.Improvement of noise in opto-electronic image system utilizing microscanning techniques[J].Optical Technique,2006,32(Z1).
Authors:MENG Hai-hong  ZHANG Xin  ZHANG Jian-ping
Abstract:Based on the analysis of the sampling and microscanning principe,a figure of merit for aliased signal energy is introduced in infrared imaging system.Considering a practical infrared imaging system,the improvement of aliasing noise is analyzed in different microscanning model.
Keywords:opto-electronic image system  microscanning  aliasing  energy spectral density  signal noise ratio
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