|
|||||
|
|
| 一种高调制度宽线性范围太赫兹电光取样技术 | |
| 作者姓名： | 陈红艺 史学舜 梁华伟 陈坤峰 吴斌 |
| 作者单位： | 深圳大学电子科学与技术学院;电子测试技术重点实验室;中国电子科技集团公司第四十一研究所; |
| 基金项目： | 国防基金(No.9140C1203021106);国家自然科学基金(No.11104188)资助 |
| 摘 要： | 本文提出了一种新型的具有高调制度和宽线性范围的太赫兹电光取样装置.该设计采用与传统45°偏置电光取样装置类似的光路,将电光晶体的输出光一分为二,通过适当调整两组四分之一波片和检偏器的取向,就可以实现调制度的大幅提高.采用琼斯矩阵理论,对光在该电光取样装置中的传播行为进行详细的研究,给出了输出信号的解析表达式,为有效提高调制度提供理论依据.结果表明,在调制度大幅提高的情况下,这种新型电光取样装置能够保持传统45°偏置电光取样装置的宽线性范围的优点. |
| 关 键 词： | 太赫兹 电光取样 调制度 线性范围 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |