Planetary cratering: Statistical recognition of secondary-crater fields |
| |
Authors: | M Fulchignoni and M Poscolieri |
| |
Institution: | (1) Laboratorio di Astrofisica Spaziale del C.N.R., Reparto di Planetologia Viale dell' Università 11, Roma, Italia |
| |
Abstract: | Summary A statistical model of cratered planetary surface has been developed in the case of i) primary impact events, ii) secondary-crater
field. A test about the tendency to grouping of craters has been carried out in both cases by means of the method of the ?strictly
reflexive closeness? of the crater centres. The results obtained show the differences of behaviour, with respect to the grouping
probability, between a population of fictitious primary craters and that including a secondary field. The method has been
applied to actual planetary surfaces in order to check the influence of secondary events in crater statistics and to avoid
it. Several crater surfaces on Mars and Mercury have been studied by this method allowing the identification of an upper limit
for the value of the crater density (i.e. a lower limit for the crater diameter) useful to avoid the disturbance caused by the presence of secondary craters in a given
area. This density (diameter) value obviously depends on the resolution of the available imagery.
Riassunto Si è sviluppato un modello statistico di una superficie planetaria craterizzata nel caso di i) eventi primari di impatto,
ii) campi di crateri secondari. In entrambi i casi si è effettuato un test sulla tendenza al raggruppamento dei crateri per
mezzo del metodo della stretta riflessività della vicinanza dei centri dei crateri. I risultati ottenuti mostrano che il comportamento
di una popolazione di crateri primari fittizi è diverso, rispetto alla probabilità di raggruppamento, da quello di un campo
di secondari. Il metodo è sato applicato a superfici planetarie reali allo scopo di eliminare l'influenza degli eventi secondari
nelle statistiche di crateri. Sono stati esaminati molti casi di superfici di Marte e Mercurio ed i risultati ottenuti permettono
d'identificare un limite superiore per il valore della densità di crateri (cioè un limite inferiore per il diametro dei crateri)
che deve essere scelto per eliminare il disturbo causato dalla presenza di crateri secondari in una data area. Tale valore
di densità (diametro) dipende ovviamente dalla risoluzione della ricopertura fotografica disponible.
Резюме Развивается статистическая модель поверхности планеты, покрытой кратерами, в следующих сличаях: 1) первичные события соударений,
2) поля вторичных кратеров. Проводится проверка тенденции группирования кратеров в обоих случаях, используя метод ?точно рефлексивной
близости? для центров кратеров. Полученные результаты обнаруживают различия в поведении относи-тельно вероятности группирования
между заполнением фиктивных первичных кратеров и заполнением с учетом вторичных кртеров. Предложенный метод применяется к
истинным поверхостям планет, чтобы проверить влияние вторичных событий на статистику кратеров и исключить влияние вторчных
кратеров. Исследуются некоторые поверхности кратеров на Марсе и Меркурии с помощью предложенного метода, который позроляет
идентифицировать верхний предел величины члотности кратеров (т.е. инжний предел для диаметра кратеров), полезной для исключения
возмущений, вызванных наличием вторичных кратеров в заданной области. Такая величина плотности (диаметра) очевидно зависит
от разрешающей способности имеющихся изображений.
To speed up publication, the authors of this paper have agreed to not receive the proofs for correction. |
| |
Keywords: | |
本文献已被 SpringerLink 等数据库收录! |
|