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| 光电成像系统混淆效应的定量分析 | |
| 作者姓名： | 张海涛 赵达尊 |
| 作者单位： | 北京理工大学光电工程系颜色科学与工程实验室,北京,100081;北京理工大学光电工程系颜色科学与工程实验室,北京,100081 |
| 摘 要： | 光电成像系统由于抽样产生频谱混淆。用矢量分析方法,给出了正弦图像基元的混淆表达式。具体分析了以短形光栅为例的周期目标莫尔条纹式的混淆效应,以及非周期性目标噪 声形式的混淆效应。并分别作了计算机仿真实验。 |
| 关 键 词： | 光电成像系统 傅里叶变换 欠抽样 频谱混淆 莫尔条纹 |
| 收稿时间： | 1998-07-21 |
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