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Z-pinch装置轴向绝缘堆的设计和分析方法
引用本文:王勐,丁伯南,谢卫平. Z-pinch装置轴向绝缘堆的设计和分析方法[J]. 强激光与粒子束, 2004, 16(9): 1199-1204
作者姓名:王勐  丁伯南  谢卫平
作者单位:中国工程物理研究院 流体物理研究所, 四川 绵阳 621900
基金项目:国防科技基础研究基金资助课题
摘    要: 通过分析比较国外Z-pinch装置轴向绝缘堆的设计,对轴向绝缘堆设计中的关键问题进行了归纳与总结。在总体描述绝缘堆研制方法和思路的基础上,详细论述了静电场数值模拟、电感参数计算和电路模拟、闪络概率计算、结构稳定性力学分析以及材料选择等绝缘堆研制中的几个关键问题,并对闪络概率分析方法的完善和拓展应用进行了讨论。

关 键 词:Z-pinch装置  轴向绝缘堆  研制方法  关键问题  闪络概率分析
文章编号:1001-4322(2004)09-1199-06
收稿时间:2004-02-25
修稿时间:2004-02-25

Design and analysis methods of vacuum insulator stack of Z-pinch device
WANG Meng,DING Bo-nan,XIE Wei-ping. Design and analysis methods of vacuum insulator stack of Z-pinch device[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2004, 16(9): 1199-1204
Authors:WANG Meng  DING Bo-nan  XIE Wei-ping
Affiliation:Institute of Fluid Physics, CAEP, P.O.Box 919 108, Mianyang 621900, China
Abstract:Based on analysis and comparison of overseas designs of vacuum insulator stacks(VIS) of Z-pinch devices, the paper summarizes and discusses the key points of VIS designing and manufacturing. Firstly, it describes the way of VIS development in general, then details the following key points: electrostatic numerical simulation, inductance parameter calculation and circuit simulation, flashover probability analysis, VIS structure stability analysis and material selection. Finally, the paper dicusses the optimization and further application of flashover probability analysis method.
Keywords:Z-pinch device  Vacuum insulator stack(VIS)  Development method  Key points  Flashover probability analysis  
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