首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

平面刻槽离子阱的热噪声引起的离子加热研究
引用本文:冀炜邦,成华东,刘亮. 平面刻槽离子阱的热噪声引起的离子加热研究[J]. 光学学报, 2012, 32(10): 1027002-271
作者姓名:冀炜邦  成华东  刘亮
作者单位:冀炜邦:中国科学院上海光学精密机械研究所量子光学重点实验室冷原子物理中心, 上海 201800
成华东:中国科学院上海光学精密机械研究所量子光学重点实验室冷原子物理中心, 上海 201800
刘亮:中国科学院上海光学精密机械研究所量子光学重点实验室冷原子物理中心, 上海 201800
基金项目:国家自然科学基金(10974212)资助课题。
摘    要:研究了和平面刻槽离子阱中的电压热涨落噪声引起的离子加热和离子加热的直接计算模型,给出了离子加热的加热尺度,并利用有限元分析方法计算了当刻槽宽度和射频电极宽度比例α发生变化时加热尺度的变化。同时,还利用涨落耗散原理计算了控制电极的阻抗热涨落对离子产生的加热效应,并给出了x和y方向电场涨落的谱密度表达式,通过计算给出了较好的α值。

关 键 词:量子光学  量子信息处理  离子芯片  有限元分析方法  热涨落噪声  离子加热
收稿时间:2012-04-19

Ion Heating by Thermal Noise of Planar Grooved Ion Chip
Ji Weibang Cheng Huadong Liu Liang. Ion Heating by Thermal Noise of Planar Grooved Ion Chip[J]. Acta Optica Sinica, 2012, 32(10): 1027002-271
Authors:Ji Weibang Cheng Huadong Liu Liang
Affiliation:Ji Weibang Cheng Huadong Liu Liang(Center of Cold Atom Physics,Key Laboratory of Quantum Optics,Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, Chinese Academy of Sciences,Shanghai 201800,China)
Abstract:The ion heating by voltage fluctuation noise in grooved planar ion trap is investigated. The direct method is used to calculate the ion heating and the length scale is obtained. The variation of length scale with ratio between width of groove and radio frequency electrode varied is calculated by using finite element method. And then the ion heating by resistance thermal fluctuation of control electrodes is also calculated by using fluctuation dissipation theorem. The spectral density of electric field fluctuation in x and y direction and better value of α are obtained.
Keywords:quantum optics  quantum information and processing  ion chip  finite element analysis method  thermal fluctuation noise  ion heating
本文献已被 CNKI 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号