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Cyanex272负载树脂分离-ICP-MS法测定高纯氧化钕中痕量稀土杂质
引用本文:李继东,伍星,郑永章. Cyanex272负载树脂分离-ICP-MS法测定高纯氧化钕中痕量稀土杂质[J]. 分析试验室, 2004, 23(8): 37-40
作者姓名:李继东  伍星  郑永章
作者单位:北京有色金属研究总院,北京,100088;北京有色金属研究总院,北京,100088;北京有色金属研究总院,北京,100088
基金项目:科技部 科技基础性工作专项资助课题(基2001 16)
摘    要:采用萃取色谱法,以Cyanex272负载树脂为固定相制成微型分离柱,以HCl为淋洗液,研究了Nd2O3基体的分离条件,分离周期为35min。建立了分离Nd后测定Tb、Dy、Ho以及内标补偿法直接测定其它稀土杂质的高纯Nd2O3中14个稀土杂质的ICP MS分析方法。方法检出限为0.03~0.30μg g,加标回收率为91.0%~110.0%,相对标准偏差为2.0%~4.9%。方法可满足快速测定99 999%Nd2O3中14个稀土杂质的要求。

关 键 词:电感耦合等离子体质谱  高纯Nd2O3  稀土杂质
文章编号:1000-0720(2004)08-0037-04

Cyanex272 loaded resin separation-ICP-MS determination of REE impurities in high-purity Nd2O3
LI Ji-dong,Wu Xing and ZHENG Yong-zhang. Cyanex272 loaded resin separation-ICP-MS determination of REE impurities in high-purity Nd2O3[J]. Chinese Journal of Analysis Laboratory, 2004, 23(8): 37-40
Authors:LI Ji-dong  Wu Xing  ZHENG Yong-zhang
Abstract:
Keywords:Inductively coupled plasma mass spectrometry (ICP-MS)  High purity Nd_2O_3  Rare earth impurity
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