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ICP—AES中光谱干扰的计算机模拟:Ⅱ.有效谱线轮廓宽度的计算
引用本文:孙大海,张展霞.ICP—AES中光谱干扰的计算机模拟:Ⅱ.有效谱线轮廓宽度的计算[J].光谱学与光谱分析,1991,11(2):28-33.
作者姓名:孙大海  张展霞
作者单位:中山大学化学系,中山大学化学系,中山大学化学系 510275 广州,510275 广州,510275 广州
基金项目:国家自然科学基金,高等学校博士学科点专项科研基金
摘    要:在电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)中,利用计算机模拟光谱线对于光谱干扰的快速准确预测是一种有效的方法。在模拟过程中,主要步骤在于计算光谱线轮廓。前人在谱线轮廓的计算方面已进行过探讨,但所涉及的大多为谱线的物理轮廓。实际上,任何光谱分析均需通过一定的光谱仪器进行。分析粒子所发射的谱线除了在光源中因各种因素发生变宽外,在经过仪器光学系统时亦会发生变宽。在检测

关 键 词:ICP-AES  光谱干扰  计算机模拟
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