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应用小波边缘检测技术分析荧光寿命显微像
引用本文:屈军乐,陈德智.应用小波边缘检测技术分析荧光寿命显微像[J].光学学报,1998,18(9):234-1237.
作者姓名:屈军乐  陈德智
作者单位:中国科学院西安光学精密机械研究所,西安交通大学电气工程学院
基金项目:西安交通大学电气工程学院,西安710049。
摘    要:研究了小波图象边缘检测技术在荧光寿命显微像分析中的应用,利用小波分析的多尺度特性进行了荧光寿命显微像的边缘提取,结果表明,这种方法非常有效。

关 键 词:荧光寿命显微像  小波图像  边缘检测  生物学研究
收稿时间:1997/5/20

Application of Wavelet Edges Detection Method in Fluorescence Lifetime Imaging Microscopy
Qu Junle,Chen Dezhi,Niu Hanben.Application of Wavelet Edges Detection Method in Fluorescence Lifetime Imaging Microscopy[J].Acta Optica Sinica,1998,18(9):234-1237.
Authors:Qu Junle  Chen Dezhi  Niu Hanben
Abstract:The application of wavelet multiscale edges detection method in the fluorescence lifetime imaging microscopy is studied. A Fluorescence lifetime image is analyzed, and the results show that this method is very effective.
Keywords:fluorescence lifetime imaging microscopy    wavelet    edges detection    multiscale analysis    
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