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基于线性调频机制的太赫兹无损检测成像技术
引用本文:张振伟,赵跃进,缪寅宵,张存林. 基于线性调频机制的太赫兹无损检测成像技术[J]. 光学学报, 2022, 42(4): 83-93. DOI: 10.3788/AOS202242.0411002
作者姓名:张振伟  赵跃进  缪寅宵  张存林
作者单位:北京理工大学光电学院精密光电测试仪器及技术北京市重点实验室,北京100081;首都师范大学物理系太赫兹光电子学教育部重点实验室,北京市太赫兹与红外工程技术研究中心,北京市成像理论与技术高精尖创新中心,北京100048,北京理工大学光电学院精密光电测试仪器及技术北京市重点实验室,北京100081,北京航天计量测试技术研究所,北京100076,首都师范大学物理系太赫兹光电子学教育部重点实验室,北京市太赫兹与红外工程技术研究中心,北京市成像理论与技术高精尖创新中心,北京100048
基金项目:国家自然科学基金重点项目(61935001);;国家重点研发计划(2020YFB2009303);
摘    要:基于全固态电子器件和零中频机制,设计了基于调频连续波的太赫兹无损检测成像系统。所提系统的有效频率范围为9.375~13.75 GHz,经24倍频后自由空间中的频率范围为0.225~0.330 THz。采用单个喇叭天线与定向耦合器结合,实现收发一体,并利用光学透镜组对太赫兹波束进行准直聚焦。对准光系统的波束质量进行了优化,提高了系统的信噪比,确保了在现有参数条件下的最佳空间分辨率。同时,采用相位聚焦的方法对系统进行了非线性矫正,使得深度分辨率接近理论分辨率。系统采用直线扫描和旋转扫描组合的方式,实现了柱坐标三维数据的获取。利用所提系统对高压绝缘端子进行了检测评估,并重构了全视角透视图像,实现了目标三维结构在实空间和像空间的孪生对应。此外,所提系统能够准确地显示绝缘端子内部的异常区域,有助于直观地评估被检测目标的内部状态,进而可以进一步满足工业领域无损检测的需求。

关 键 词:成像系统  太赫兹波  太赫兹成像  无损检测  调频连续波  绝缘端子

Terahertz Nondestructive Testing Imaging Technology Based on Linear Frequency Modulation Mechanism
Zhang Zhenwei,Zhao Yuejin,Miao Yinxiao,Zhang Cunlin. Terahertz Nondestructive Testing Imaging Technology Based on Linear Frequency Modulation Mechanism[J]. Acta Optica Sinica, 2022, 42(4): 83-93. DOI: 10.3788/AOS202242.0411002
Authors:Zhang Zhenwei  Zhao Yuejin  Miao Yinxiao  Zhang Cunlin
Abstract:
Keywords:
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