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回旋速调管加载损耗介质群聚腔的研究
引用本文:徐勇,罗勇,熊彩东,刘迎辉,李宏福.回旋速调管加载损耗介质群聚腔的研究[J].强激光与粒子束,2005,17(12):1870-1874.
作者姓名:徐勇  罗勇  熊彩东  刘迎辉  李宏福
作者单位:电子科技大学,物理电子学院,四川,成都,610054;电子科技大学,物理电子学院,四川,成都,610054;电子科技大学,物理电子学院,四川,成都,610054;电子科技大学,物理电子学院,四川,成都,610054;电子科技大学,物理电子学院,四川,成都,610054
基金项目:国家863计划项目资助课题
摘    要: 用模式场匹配理论建立了散射矩阵,数值模拟并分析了加载损耗介质层对群聚腔Q值、谐振特性以及群聚腔两端漂移段半径的大小对谐振特性的影响。研究表明:加载损耗介质在高频率下使群聚腔主要寄生模式EH212和EH311得到极大的抑制,对工作模式H01模更有利;衰减常数随损耗层厚度的增加而迅速增加,Q值随介质厚度的增加迅速减小,因此在设计腔体时必须严格控制损耗材料厚度。最后为正在研制的回旋速调管设计了满足要求的低Q群聚腔,该腔冷测实验结果与计算结果基本一致。

关 键 词:回旋速调管  群聚腔  品质因素  损耗介质  模式匹配  散射矩阵
文章编号:1001-4322(2005)12-1870-05
收稿时间:2005-04-01
修稿时间:2005-09-23

Bunching cavity with dielectric absorber for gyroklystron
XU Yong,LUO Yong,XIONG Cai-dong,LIU Ying-hui,LI Hong-fu.Bunching cavity with dielectric absorber for gyroklystron[J].High Power Laser and Particle Beams,2005,17(12):1870-1874.
Authors:XU Yong  LUO Yong  XIONG Cai-dong  LIU Ying-hui  LI Hong-fu
Institution:School of Physical Electronics, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054, China
Abstract:The bunching cavity with dielectric absorber for gyroklystron is studied by using the mode-matching technique to build scattering matrix. By the theoretical analysis and the numerical simulation, the effect of loss dielectric absorber on Q factor and resonance characteristic of bunching cavity , and the effect of side apertures on resonance characteristic are presented . The numerical simulation shows that the bunching cavity with loss dielectric absorber can bate parasitical EH212 mode and EH311 mode effectively, but profit H01 mode at 8 mm band. When the thickness of loss dielectric absorber increases, the quality factor Q will decrease. Cold-test shows that the simulation results are in good agreement with experimental results.
Keywords:Gyroklystron  Bunching cavity  Quality factor  Loss dielectric  Mode-matching  Scattering matrix
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