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安捷伦举办Cary 7000通用型分光光度计(UMS)VIP研讨会
摘 要:
2013年9月2日,上海——近日,全球分析、测量技术的领导者安捷伦科技公司在上海举办"Cary7000通用型分光光度计VIP研讨会(下称’研讨会’)"。多名业界专家、实验室技术人员和用户代表参加了此次研讨会。会上,安捷伦介绍并演示了新品Cary 7000通用型分光光度计(UMS)的应用及其软硬件功能,全面、深入地展现了其作为安捷伦全新一代光学材料测试平台,助力中国用户所实现的突破。
关 键 词:
Cary
7000
UMS)VIP
实验室技术
光学材料
测量技术
透射率
演示过程
材料性能
自动测量
固体样品
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