| 不同厚度像素CdZnTe探测器的性能测试和评估 |
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| 引用本文： | 沈敏, 肖沙里, 张流强, 等. 不同厚度像素CdZnTe探测器的性能测试和评估[J]. 强激光与粒子束, 2014, 26: 034001. doi: 10.3788/HPLPB201426.034001 |
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| 作者姓名： | 沈敏 肖沙里 张流强 曹玉琳 陈宇晓 |
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| 作者单位： | 1.重庆大学 光电技术及系统教育部重点实验室, 重庆 400030;;;2.中国工程物理研究院 电子工程研究所, 四川 绵阳 621 900;;;3.重庆工商职业学院, 重庆 合川 401 520 |
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| 摘 要： | 碲锌镉材料（CdZnTe）是目前探测X射线和射线的最好材料之一。将241Am和137Cs辐射源作用于像素CdZnTe探测器,通过实验和仿真分别得到能量谱估计、能量分辨率和峰值效率。由实验和仿真结果得出:在662 keV的高能量下,厚度较大的CdZnTe探测器可获得更高的能量分辨率和峰值效率,但在59.5 keV低能处会出现拖尾升高和电荷损失的现象; 厚度较薄的探测器在低能处的特性反而更好。
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| 关 键 词： | 碲锌镉 探测器 能量谱 能量分辨率 峰值效率 |
| 收稿时间： | 2013-06-08 |
| 修稿时间： | 2013-11-08 |
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