| La2-xSrxCuO4体系正常态的低温反常输运与载流子的局域化 |
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| 引用本文： | 黎文峰,曹世勋,李领伟,刘芬,池长昀,敬超,张金仓.La2-xSrxCuO4体系正常态的低温反常输运与载流子的局域化[J].低温与超导,2005,33(1):60-64. |
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| 作者姓名： | 黎文峰 曹世勋 李领伟 刘芬 池长昀 敬超 张金仓 |
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| 作者单位： | 上海大学物理系,上海,200436;上海大学物理系,上海,200436;上海大学物理系,上海,200436;上海大学物理系,上海,200436;上海大学物理系,上海,200436;上海大学物理系,上海,200436;上海大学物理系,上海,200436 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金，上海市教委"曙光计划"，上海市教委资助项目，上海市教委资助项目 |
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| 摘 要： | 对La2-xSrxCuO4系列(x=0.06～0.20)样品的电阻率和霍尔系数等输运特性进行了系统研究.电阻率随温度变化的实验结果表明,对低掺杂样品,在正常态区域(T＞Tc),随Sr掺杂量的增加,各样品在低温区超导转变温度附近均发生了金属-绝缘体转变,且转变温度TMl随掺杂量的增加逐渐降低;对于最佳掺杂样品,其金属-绝缘体转变行为变得非常不明显,到x=0.18时完全消失.对正常态样品的霍尔系数而言,随温度的降低逐渐增大,且随Sr掺杂量的增加显示减小.表明载流子浓度随掺杂量的增加而增加.在低掺杂时,接近Tc的温区内霍尔系数RH迅速增大,随着掺杂量的增加Tc附近霍尔系数的增大变缓.霍尔系数在Tc附近的增大,表明低温区载流子浓度减少.电阻率和霍尔系数在低温区电输运的这种反常行为可从载流子的局域化角度给予初步解释.
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| 关 键 词： | 金属-绝缘体转变 霍尔系数 载流子局域化 |
| 修稿时间： | 2004年10月8日 |
Abnormal Transport Behaviors and Carrier Localization at Low Temperatures in the Normal State of La2-x SrxCuO4 System |
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| Li Wenfeng,Cao Shixun,Li Lingwei,Liu Fen,Chi Changyun,Jing Chao,Zhang Jincang.Abnormal Transport Behaviors and Carrier Localization at Low Temperatures in the Normal State of La2-x SrxCuO4 System[J].Cryogenics and Superconductivity,2005,33(1):60-64. |
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| Authors: | Li Wenfeng Cao Shixun Li Lingwei Liu Fen Chi Changyun Jing Chao Zhang Jincang |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | metal-insulator transition hall coefficient carrier localization |
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