| 使用红外干涉仪测量红外材料折射率 |
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| 引用本文： | 贺俊,陈磊,王青.使用红外干涉仪测量红外材料折射率[J].光子学报,2010,39(6). |
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| 作者姓名： | 贺俊 陈磊 王青 |
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| 作者单位： | 1. 南京理工大学,电子工程与光电技术学院,南京,210094;中国兵器工业集团南京北方信息产业集团,南京210022
2. 南京理工大学,电子工程与光电技术学院,南京,210094 |
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| 基金项目： | 教育部博士基金，兵器预研支撑基金 |
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| 摘 要： | 使用自行研制的泰曼型红外干涉仪测量红外材料的折射率.在干涉仪的测试臂中加一个旋转台,将被测件放在旋转台上旋转,在旋转过程中经过被测件的光程发生改变,导致干涉条纹发生移动,通过测量条纹的移动数和被测件的旋转角度来计算出被测件的折射率.测量结果显示,25°C时在10.6μm波段处锗单晶的折射率为4.003,硫系玻璃锗砷硒(GeAsSe)的折射率为2.494.折射率测量的误差在10-3量级,增加被测件的厚度会进一步提高折射率的测量准确度,待测红外材料的折射率越低,测量准确度越高.
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| 关 键 词： | 测量 折射率 红外材料 红外干涉仪 误差 |
Measurements of Infrared Materials Refractive-index Using Infrared Interferometer |
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| HE Jun,CHEN Lei,WANG Qing.Measurements of Infrared Materials Refractive-index Using Infrared Interferometer[J].Acta Photonica Sinica,2010,39(6). |
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| Authors: | HE Jun CHEN Lei WANG Qing |
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