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界面对ZrN/TaN纳米多层膜固氦性能的影响
引用本文:王飞,刘望,邓爱红,朱敬军,安竹,汪渊.界面对ZrN/TaN纳米多层膜固氦性能的影响[J].物理学报,2013,62(18):186801-186801.
作者姓名:王飞  刘望  邓爱红  朱敬军  安竹  汪渊
作者单位:1. 四川大学原子核科学技术研究所, 教育部辐射物理及技术重点实验室, 成都 610064;2. 四川大学物理科学与技术学院物理系, 成都 610064
基金项目:国家自然科学基金,四川省科技支撑计划基金,教育部新世纪人才基金(
摘    要:采用射频磁控溅射方法, 在混合气氛下制备了ZrN/TaN多层膜. 利用X射线衍射、慢正电子束分析、增强质子背散射、扫描电子显微镜, 分别对ZrN/TaN多层膜中相结构、氦相关缺陷、氦含量、截面形貌等进行了分析. 结果表明, 调制周期为30 nm的ZrN/TaN多层膜在600℃退火后, 氦的保持率仍能达到45.6%. 在适当的调制周期下, ZrN/TaN多层膜能够耐氦损伤并且其界面具有一定的固氦性能. 关键词: ZrN/TaN 纳米多层膜 界面 固氦

关 键 词:ZrN/TaN  纳米多层膜  界面  固氦
收稿时间:2013-04-28

Interface effects on helium retention properties of ZrN/TaN nano-multilayers
Wang Fei , Liu Wang , Deng Ai-Hong , Zhu Jing-Jun , An Zhu , Wang Yuan.Interface effects on helium retention properties of ZrN/TaN nano-multilayers[J].Acta Physica Sinica,2013,62(18):186801-186801.
Authors:Wang Fei  Liu Wang  Deng Ai-Hong  Zhu Jing-Jun  An Zhu  Wang Yuan
Abstract:In this paper, ZrN/TaN nano-multilayers are fabricated in mixing atmosphere by radio frequency magnetron sputtering. The phase structures, He-related defects, helium content and cross-section morphologies of ZrN/TaN nano-multilayers are characterized by X-ray diffraction, slow positron beam analysis, enhanced proton backscattering spectrome and scanning electron microscope, respectively. The results show that the interface of ZrN/TaN nano-multilayer with 30 nm modulation period is stable and could resist the damage of helium even annealed at 600℃. The He retention rate of ZrN/TaN nano-multilayer with 30 nm modulation period can reach up to 45.6%.
Keywords: ZrN/TaN nano-multilayer interface helium retention
Keywords:ZrN/TaN  nano-multilayer  interface  helium retention
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