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最佳端部耦合技术在光波导损耗测量中的实践
作者姓名:杨治安  姚琲
作者单位:天津大学材料学院,天津,300072;天津大学分析中心,天津,300072
摘    要:探讨了最佳端部耦合技术应用中面临的若干问题,如系统损耗的标定,光路调整等等。采用标样标定法、可见光辅助、平面镜调节光电监测等技术,得到了满意的结果。

关 键 词:集成光学  光波导损耗  光测量
收稿时间:1998-02-17
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