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责任编辑
分类号
杂志ISSN号
最佳端部耦合技术在光波导损耗测量中的实践
作者姓名:
杨治安
姚琲
作者单位:
天津大学材料学院,天津,300072;天津大学分析中心,天津,300072
摘 要:
探讨了最佳端部耦合技术应用中面临的若干问题,如系统损耗的标定,光路调整等等。采用标样标定法、可见光辅助、平面镜调节光电监测等技术,得到了满意的结果。
关 键 词:
集成光学
光波导损耗
光测量
收稿时间:
1998-02-17
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