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| 基于低次插值的红外焦平面器件非均匀性多点校正算法 | |
| 作者姓名： | 殷世民 刘上乾 |
| 作者单位： | 1.西安电子科技大学技术物理学院,西安,710071 |
| 摘 要： | 提出了分段线性插值和三次样条插值两种基于低次插值的红外焦平面阵列非均匀性多点校正算法,该算法能有效地克服工程上常用的一点和二点校正算法的不足,具有校正精度高、动态范围大、在线计算量小、易于实时实现等优点,并且能有效克服IRFPA各探测单元响应特性的非线性对校正精度的影响. |
| 关 键 词： | 红外焦平面阵列 非均匀性 三次样条插值 多点校正 |
| 收稿时间： | 2001-09-24 |
| 修稿时间： | 2001-09-24 |
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