|
|||||
|
|
| X射线荧光光谱法非破坏测定二元合金薄膜的成分 | |
| 作者姓名： | 程建邦 郑德娟 欧通桃 郝贡章 |
| 作者单位： | 中国科学院物理研究所(程建邦，郑德娟)，冶金部有色金属研究院(欧通桃)，冶金部有色金属研究院(郝贡章) |
| 摘 要： | 一、引 言 用X射线荧光光谱法测定二元合金薄膜的组分时,通常是先制备一系列不同成分的薄膜,经化学分析标定后作为标样,以此来确定标准曲线,然后对待测薄膜进行测定、比较[1,2].近年来某些作者推荐利用单组分薄膜标样的方法[3,4].这些方法不足之处在于制备薄膜标样要增加较大的工作量.用质子背散射方法来测定薄膜组分虽具有它独特的优点,但是在测定膜主成分时其准确度常常不够满意,此外,它还要与加速器联用,因此应用上也受到限制. 本文来用 L.Bergel及 F.J.Cadieu[5]推荐的利用滤纸片标样的方法,测定了非晶态钆钴合金薄膜的原子组分比. … |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |