| 不同浓度掺铊碘化铯(CsI:Tl)晶体的光谱特性 |
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| 引用本文： | 吴正龙. 不同浓度掺铊碘化铯(CsI:Tl)晶体的光谱特性[J]. 光谱学与光谱分析, 2011, 31(8). DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2011)08-2141-03 |
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| 作者姓名： | 吴正龙 |
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| 作者单位： | 北京师范大学分析测试中心,北京,100875 |
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| 摘 要： | 对含有不同浓度Tl+激活剂的CsI:Tl晶体进行了光吸收光谱和荧光光谱测量,以研究CsI:Tl的光学吸收和发光特性.实验观察到,在紫外吸收谱中包含有三个特征结构峰297,273和247 nm,高浓度Tl+晶体的吸收结构峰比低浓度的峰明显加宽,其中A吸收峰297 nm红移20 nm.室温下不同能量紫外光激发的荧光带形状相同,不受Tl+浓度影响.分析认为,晶体中掺杂Tl+后品格畸变是导致吸收峰或荧光激发峰变化的主要原因,但对发光带峰宽和峰位影响不明显.
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| 关 键 词： | 碘化铯晶体 闪烁体 吸收光谱 三维荧光谱 |
Comparisons of Spectral Properties of CsI : Tl Crystals with Various Tl+-Doped Concentrations |
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| WU Zheng-long. Comparisons of Spectral Properties of CsI : Tl Crystals with Various Tl+-Doped Concentrations[J]. Spectroscopy and Spectral Analysis, 2011, 31(8). DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2011)08-2141-03 |
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| Authors: | WU Zheng-long |
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