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硅(100)晶面上硅和二氧化硅的横向与纵向腐蚀速率
引用本文:欧阳贱华,赵新生. 硅(100)晶面上硅和二氧化硅的横向与纵向腐蚀速率[J]. 化学物理学报, 2004, 17(3): 236-240
作者姓名:欧阳贱华  赵新生
作者单位:北京大学分子动态与稳态结构国家重点实验室,北京大学分子动态与稳态结构国家重点实验室 化学学院化学生物学系,北京100871,化学学院化学生物学系,北京100871
基金项目:Dedicatedtothe 80thbirthdayofProfessorQiheZhu .ProjectsupportedbyNKBRSF (TG19990 75 30 5 )andtheNationalNaturalScienceFoundationofChina (2 995 30 0 1,2 99730 0 3)
摘    要:
定义了硅表面上硅和二氧化硅的横向腐蚀速率 ,系统地测量了硅 (10 0 )晶面上的硅和二氧化硅在 4 0 %(质量分数 )氟化铵水溶液中的横向与纵向腐蚀速率 ,并和硅 (111)晶面上的测量结果进行了对比 .对比结果表明 ,尽管两种晶面上的硅和二氧化硅的腐蚀速率有明显的差别 ,其相应的表观活化能在误差范围内相同 .实验中还发现 ,溶液的温度为 38.2℃时 ,硅腐蚀过程中形成的气泡对硅的腐蚀速率有显著的影响 :开始时加速硅的腐蚀 ;但随着气泡在硅 /溶液界面的聚集 ,阻碍硅的腐蚀 .

关 键 词:  二氧化硅  腐蚀速率  光刻术
收稿时间:2003-10-29

The Lateral and Longitudinal Etching Rates of Silicon and Silica on Si (100) Surface
Ouyang Jianhua and Zhao Xinsheng. The Lateral and Longitudinal Etching Rates of Silicon and Silica on Si (100) Surface[J]. Chinese Journal of Chemical Physics, 2004, 17(3): 236-240
Authors:Ouyang Jianhua and Zhao Xinsheng
Affiliation:Ouyang Jianhua,Zhao Xin Sheng **
Abstract:
Keywords:Silicon   Silica   Etching rate   Photolithography
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