| 由类氦离子共振线与互组合线强度比确定等离子体电子温度 |
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| 引用本文： | 程成,袁文麟,徐耀聪. 由类氦离子共振线与互组合线强度比确定等离子体电子温度[J]. 核聚变与等离子体物理, 1986, 0(2) |
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| 作者姓名： | 程成 袁文麟 徐耀聪 |
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| 作者单位： | 西南物理研究所，西南物理研究所，西南物理研究所 四川，乐山，四川，乐山，四川，乐山 |
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| 摘 要： | 聚变等离子体的光谱诊断,国内外已有了许多工作。如何在短波长上获得等离子体丰富的光谱信号,从而确定高温等离子体参数,是目前一个有意义的工作。 本工作在一台θ箍缩装置上,用掠入射真空紫外光谱仪,以对联三苯闪烁体为荧光转换材料,观测了类氦的CV40.2/40.7A,OⅦ21.6/21.8A等谱线信号,及CⅥ33.7A,OⅧ19.0
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| 关 键 词： | 共振线 互组合线 电子温度 |
ELECTRON TEMPERATURE DETERMINATION FROM INTENSITY RATIO OF RESONANCE AND INTERCOMBINATION LINES OF HELIUM-LIKE IONS |
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| CHENG Cheag YUAN Wenlin XU Yaocong. ELECTRON TEMPERATURE DETERMINATION FROM INTENSITY RATIO OF RESONANCE AND INTERCOMBINATION LINES OF HELIUM-LIKE IONS[J]. Nuclear Fusion and Plasma Physics, 1986, 0(2) |
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| Authors: | CHENG Cheag YUAN Wenlin XU Yaocong |
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| Keywords: | Resonance line Intercombination line Electron temperature. |
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