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粉末压片制样-X射线荧光光谱法在监控铜选矿流程中的应用
引用本文:龙海珍,孔会民,马富超,申卫龙.粉末压片制样-X射线荧光光谱法在监控铜选矿流程中的应用[J].光谱实验室,2013,30(1):141-144.
作者姓名:龙海珍  孔会民  马富超  申卫龙
作者单位:巴彦淖尔西部铜业有限公司质检中心 内蒙古巴彦淖尔市015000
摘    要:应用X射线荧光光谱仪监控铜选矿流程,采用粉末压片法制样,确定了仪器最佳参数,建立了校准曲线.经北京矿业研究总院验证,原矿偏差小于±0.024%,尾矿偏差小于±0.004%,精矿偏差不大于±0.127%;相对标准偏差(n=9)≤1.76%.大量实验数据表明,粉末压片制样-X射线荧光光谱法测定流程原矿、尾矿、精矿中的铜的准确度、精密度均可满足对选矿的监控.

关 键 词:原矿  尾矿  精矿    X荧光光谱法  压片制样

Application of X-Ray Fluorescence Spectrometry in Monitoring Copper Dressingscheme with Pressed-Powder Pellets
LONG Hai-Zhen , KONG Hui-Min , MA Fu-Chao , SHEN Wei-Long.Application of X-Ray Fluorescence Spectrometry in Monitoring Copper Dressingscheme with Pressed-Powder Pellets[J].Chinese Journal of Spectroscopy Laboratory,2013,30(1):141-144.
Authors:LONG Hai-Zhen  KONG Hui-Min  MA Fu-Chao  SHEN Wei-Long
Institution:LONG Hai-Zhen KONG Hui-Min MA Fu-Chao SHEN Wei-Long (Bayannur Western Copper Co.,LTD,Bayannur,Inner Mongolia 015000,P.R.China)
Abstract:
Keywords:
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