椭偏法测厚及折射率的计算机解算 |
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引用本文: | 沙洪均.椭偏法测厚及折射率的计算机解算[J].物理实验,1991,11(5):222-223,221. |
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作者姓名: | 沙洪均 |
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作者单位: | 天津大学机电分校 |
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摘 要: | WJZ型多功能激光椭圆偏振仪是在JJY型分光计上附加激光椭偏装置而组成。兼有分光计和椭偏仪的功能,可用于测量不同基底上介质薄膜的厚度和折射率;除作为高校中级物理实验外,亦可用于材料表面光学参数的分析研究。但是,与原椭偏装置相配用的椭偏仪数据表,只能适用于K_q基底上生长的氧化锆薄膜标准试样,这就实际上限制了椭偏仪的使用范围;另一方面,即使对上述标准试样测量,所获数据往往与数据表提供的数值偏离甚大,直接影响实验效果。经过多次实际试验,本文分析了三相椭偏方程解的特性,讨论了不同条件下椭偏法测厚及折射率的计算机解算。
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关 键 词: | 椭偏法 折射率 厚度 计算机 薄膜 |
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