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| 用喇曼光谱测定液晶的序参数 | |
| 引用本文： | 朱自莹,何大钧,刘纯益,洪熙君.用喇曼光谱测定液晶的序参数[J].物理,1985(6). |
| 作者姓名： | 朱自莹 何大钧 刘纯益 洪熙君 |
| 作者单位： | 中国科学院上海有机化学研究所 (朱自莹，何大钧，刘纯益)，中国科学院上海有机化学研究所(洪熙君) |
| 摘 要： | 液晶序参数的测定是研究液晶分子排列的重要课题1,2].本文介绍我们用喇曼光谱测定MBBA(4-甲氧基苄叉-4’-正丁基苯胺)序参数的结果,与文献比较,基本相符. Jen2]等人对于液晶序参数作了详尽的论述.令向列型液晶分子长轴与液晶光轴成θ角,那么序参数A0(2)和A0(4)的定义为<>是对所有分子的平均值. 用喇曼光谱测定序参数,主要是测二组退偏比.如图1,激光束垂直入射于经沿面校列处理过的液晶盒.如果a与b分别为散射光和入射光的偏振方向,Iab代表测得的谱带强度.那么退偏比R1和R22]的定义是 因此通过退偏比的测量,可以求出序参数的数值. 实验… |
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