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镁含量和热处理对Zn1-xMgxO薄膜结构和发光性能的影响
作者姓名:周军  方庆清  王保明  刘艳美  李貌  闫方亮  王胜男
作者单位:安徽大学物理与材料科学学院,光电信息获取与控制教育部重点实验室,合肥 230039
摘    要:采用溶胶-凝胶工艺在玻璃衬底上制备了Zn1-xMgxO(x=0.1,0.2,0.3, 0.4,0.5,0.6,0.7)薄膜.X射线衍射谱(XRD)测试结果发现,在 0.1<x<0.3 范围内,薄膜仍然保持氧化锌六角纤锌矿结构,(002)面衍射峰位向大角度方向移动,超过0.3时出现氧化镁立方相.对镁含量为0.1,0.2,0.3薄膜的光致发光谱研究表明:紫外发光峰随镁含量的增加向短波方向移动.对于Zn0.9Mg0.1O薄膜,在5,5.5和6℃/min的升温速率下,升温速率越快结晶程度越好.在相同升温速率下,随着退火温度从500 ℃升高到560 ℃,样品的结晶程度变好,当退火温度达到590 ℃时,结晶质量下降. 关键词: 氧化锌 结构 禁带宽度 光致发光谱

关 键 词:氧化锌  结构  禁带宽度  光致发光谱
收稿时间:2008-01-19
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