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制导光纤1550 nm波长微弯损耗成因分析
引用本文:蔡春平,高秀敏.制导光纤1550 nm波长微弯损耗成因分析[J].应用光学,2003,24(2):16-19.
作者姓名:蔡春平  高秀敏
作者单位:西安应用光学研究所,陕西,西安,710100
摘    要:从制导光纤本征损耗、预制棒制作、光纤拉制、涂覆与挤塑以及成缆工艺等方面分析造成制导光纤1550nm波长微弯损耗的原因。

关 键 词:微弯损耗  预制棒  光纤拉制  涂覆  挤塑  成缆  制导光纤  成因  本征损耗
文章编号:1002-2082(2003)02-0016-04
收稿时间:2002/3/21

ANALYSIS OF MICROBENDING LOSS OF GUIDING FIBER AT 1550nm
Abstract:The reason of the microbending loss of a guiding fiber at 1550nm is analyzed in the intrinsic loss, freform qabrication as well as optical fiber drawing, coating, plastic extrusion and cabling process.
Keywords:microbending loss  preform  fiber drawing  coating  plastic  extrusion  cabling
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